1. An essential guide to electronic material surfaces and interfaces /
پدیدآورنده : by Leonard J. Brillson, Ohio State University
کتابخانه: Center and Library of Islamic Studies in European Languages (Qom)
موضوع : Electronics-- Materials.,Semiconductors-- Materials.,Spectrum analysis.,Surfaces (Technology)-- Analysis.
رده :
TK7871
2. An introduction to surface analysis by XPS and AES
پدیدآورنده : Watts, John F.
کتابخانه: Library of College of Science University of Tehran (Tehran)
موضوع : ، Surfaces )Technology( -- Analysis,، Electron spectroscopy
رده :
TP
156
.
S95
W373
2003
3. An introduction to surface analysis by XPS and AES
پدیدآورنده : Watts, John F.
موضوع : ، Surfaces )Technology(--Analysis,، Electron spectroscopy
۳ نسخه از این کتاب در ۳ کتابخانه موجود است.
4. An introduction to surface analysis by XPS and AES
پدیدآورنده : / John F. Watts, John Wolstenholme
کتابخانه: Central Library and Information Center of the University of Mohaghegh Ardabili (Ardabil)
موضوع : Surfaces (Technology)- Analysis,Electron spectroscopy
رده :
TP156
.
S95
,
W373
2003
5. An introduction to surface analysis by XPS and AES
پدیدآورنده : Watts, John F.
کتابخانه: Central Library and Information Center of Ferdowsi University of Mashhad (Khorasan Razavi)
موضوع : Analysis ، Surfaces )Technology(,، Electron spectroscopy
رده :
TP
156
.
S95
W373
2003
6. An introduction to surface analysis by XPS and AES
پدیدآورنده :
کتابخانه: Central Library and Documents Center of Mazandaran University (Mazandaran)
موضوع : Surfaces (Technology) ; Analysis ; Electron spectroscopy ;
7. An introduction to surface analysis by XPS and AES
پدیدآورنده : Watts, John F
کتابخانه: Central Library and Documentation Center (Semnan)
موضوع : ، Surfaces )Technology--Analysis,، Electron spectroscopy
رده :
TP
156
.
W373
2003
8. An introduction to surface analysis by XPS and AES
پدیدآورنده : / John F. Watts, John Wolstenholme
کتابخانه: Central Library, Center of Documentation and Supply of Scientific Resources (East Azarbaijan)
موضوع : Surfaces (Technology), Analysis,Electron spectroscopy
رده :
TP156
.
S95W373
2003
9. An introduction to surface analysis by XPS and AES
پدیدآورنده : Watts, John F
کتابخانه: Central Library and Documentation Center (Kerman)
موضوع : ، Surfaces )Technology( - Analysis,، Electron spectroscopy
رده :
TP
156
.
S95
W373
2003
10. An introduction to surface analysis by XPS and AES
پدیدآورنده : Watts, John F.
کتابخانه: Central Library and Documents Center of Industrial University of Khaje Nasiredin Toosi (Tehran)
موضوع : Analysis ، Surfaces )Technology(,، Electron spectroscopy
رده :
TP
156
.
S95
W373
11. An introduction to surface analysis by XPS and AES
پدیدآورنده : / John F. Watts, John Wolstenholme
کتابخانه: Central Library and Information Center of the University of Mohaghegh Ardabili (Ardabil)
موضوع : Surfaces (Technology)- Analysis,Electron spectroscopy
رده :
TP156
.
S95
,
W373
2003
12. An introduction to surface analysis by XPS and AES. ]CD[
پدیدآورنده : Watts, John F., John F. Watts, John Wolstenholme
کتابخانه: Library and Documentation Center of Kurdistan University (Kurdistan)
موضوع : Analysis ، Surfaces )Technology(,، Electron spectroscopy
رده :
TP156
.
S95
W373
2003
13. Analysis of organic and biological surfaces
پدیدآورنده : ]edited by[ Patrick Echlin
کتابخانه: Library and Documentation Center of Kurdistan University (Kurdistan)
موضوع : ، Surfaces )Technology(- Analysis,، Spectrum analysis,، Microscopy,، Chemistry, Organic,، Biochemistry
رده :
QD
502
.
A55
14. Applications of Reference Materials in Analytical chemistry
پدیدآورنده : Peter Roper...[,atc]&
کتابخانه: Central Library Yasuj University (Kohgiluye va Buyer ahmad)
موضوع : Surfaces (Technology), Analysis, Congresses
رده :
620
,.
11292
,.
A68
,
2001
15. Applied surface analysis :a symposium
پدیدآورنده : sponsored by ASTM Committee E-24 on Surface Analysis, American Society for Testing and Materials, Cleveland, Ohio, 82 Feb.-1 March, 8791 ; T. L. Barr, L. E. Davis, editors
کتابخانه: Library of Razi Metallurgical Research Center (Tehran)
موضوع : Analysis Congresses ، Surfaces )Technology(
رده :
TA
418
.
7
.
A68
1980
16. Auger microprobe analysis
پدیدآورنده : Ferguson, I. F.
کتابخانه: Central library and information center (Khorasan Razavi)
موضوع : Analysis ، Surfaces )Technology(,، Auger effect,، Photoelectron spectroscopy
رده :
TP
156
.
S95
F47
1989
17. Beam effects, surface topography, and depht profiling in surface analysis
پدیدآورنده : edited by Avin W. Czanderna, Theodore E. Madey and Cedric J. Powell
کتابخانه: Central Library of Amirkabir University of Technology (Tehran)
موضوع : Surfaces )Technology( - Analysis , Materials - Effect of radiation on
رده :
TA
418
.
7
.
B43
1998
18. Beam effects, surface topography, and depth profiling in surface analysis
پدیدآورنده :
کتابخانه: Central Library and Documents Center of Mazandaran University (Mazandaran)
موضوع : Surfaces (Technology) ; Analysis. ;
19. Catalysts and surfaces: characterization techniques
پدیدآورنده : Viswanathan, Balasubramanian
کتابخانه: Library of College of Science University of Tehran (Tehran)
موضوع : ، Catalysts,Analysis ، Surfaces )Technology(,، Electron spectroscopy
رده :
QD
501
.
V57
2010
20. Experimental methods in catalytic research
پدیدآورنده : edited by Robert B. Anderson
کتابخانه: Library of Institute of Biochemistry and Biophysics of University of Tehran (Tehran)
موضوع : Catalysis,Catalysts,Surfaces (Technology) -- Analysis
رده :
QD
501
.
E9
W
